Intervalo de controlo da temperatura:RT temperatura ambiente
Precisão do controlo da temperatura:± 0,1°C (forno de coluna, porta de injecção, detector)
Repetitividade do aumento da temperatura do programa:≤ 1%
Intervalo de temperatura do dispositivo de craqueamento:RT - 450°C
Taxa de aquecimento do dispositivo de craqueamento:> 500°C/min
Intervalo de tempo da pirólise:0.01~99.99min
Faixa de comprimento de onda:190nm-900nm
Precisão do comprimento de onda:± 0,2 nm
Repetibilidade do comprimento de onda:±0.1nm
Objeto de teste:pó, contínuo, líquido
Intervalo de análise elementar:Enxofre ((S) ~ urânio ((U) (NA, MG, AL, SI, P no gel de sílica podem ser medidos acima de 600PPM)
Os elementos mais mensuráveis ao mesmo tempo:36 tipos
Intervalo de temperatura do dispositivo de craqueamento:RT - 450°C
Taxa de aquecimento do dispositivo de craqueamento:> 500°C/min
Intervalo de tempo da pirólise:0.01~99.99min
Intervalo de análise elementar:do sódio (Na) ao urânio (U)
Intervalo de análise de conteúdo:1 ppm ~ 99,99%
Estabilidade de trabalho:00,1% da intensidade total da fluorescência
Repetibilidade do tempo de retenção:< 0,008% ou < 0,0008 minutos
Reprodutividade máxima da área:< 0,5% DRA
Aquecimento (taxa máxima de aquecimento):120 ̊C/min