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Detalhes do produto:
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| Exposição: | Exposição do LCD da cor | Modo de operação: | modo de programa, modo do valor fixo |
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| Uniformidade da temperatura: | ≤±2℃ | taxa de aquecimento: | 5℃/min (refrigerar mecânico, sob a carga padrão) |
| Realçar: | Sistema de teste detalhado de envelhecimento acelerado da memória Flash,Sistema de teste da memória Flash da baixa temperatura,Câmara de envelhecimento acelerada da baixa temperatura |
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Câmara de envelhecimento acelerada do alto e baixo do sistema de teste da memória Flash temperatura detalhada
especificação de produto
O sistema de teste inteligente HD-512-NAND da microplaqueta de memória Flash é um sistema de teste detalhado da memória Flash que possa personalizar os testes paralelos do plano e do apoio de teste de vários tipos de partículas da memória Flash. 64 tipos, o número máximo de partículas da memória Flash paralelamente que testam podem alcançar 512.
O sistema de teste inteligente YC-512-NAND da microplaqueta de memória Flash suporta testes padrões de teste múltiplos e funções feitas sob encomenda do parâmetro do teste, e pode fornecer o processo básico do teste do um-clique e o processo de nível elevado do teste a flexibilidade alta, não somente pode realizar a vida restante de partículas da memória Flash, medida real, retenção dos dados e ler a interferência e outros testes funcionais pode igualmente ajudar usuários a verificar o estado da confiança de partículas da memória Flash. Depois que o teste é terminado, o relatório de teste pode para exportar facilmente e rapidamente com a uma chave, fornecendo clientes os dados de teste gráficos os mais intuitivos e os mais exatos. Forneça a referência de dados a mais intuitiva para a classificação da categoria e a aplicação de partículas da memória Flash, e realize a classificação inteligente baseada nos resultados da inspeção da qualidade de partículas da memória Flash.
O ※ a base do teste cumpre com o suporte No.218 de JEDEC: Exigências de circuito integrado de circuito integrado da movimentação da associação B-2016 da tecnologia (SSD) e teste de resistência Motho;
O ※ a base do teste cumpre com o JEDEC No.47 padrão NVCE: Qualificação Esforço-Teste-conduzida da tecnologia associação de circuito integrado dos circuitos integrados;
O ※ as especificações do projeto da placa de teste cumpre as exigências do ambiente da temperatura do teste da industrial-categoria;
Informação
| Tamanho interno da caixa | W760×D400×H890mm |
| Tamanho exterior da caixa | W1870×D890×H1830mm |
| volume | 270L |
| Método de abertura | Única porta (direita abra) |
| método refrigerando | refrigerado a ar |
| peso | sobre 950KG |
| fonte de alimentação | C.A. 380V aproximadamente 7,5 quilowatts |
Parâmetro da temperatura
| variação da temperatura | -70℃~150℃ |
| Flutuação da temperatura |
≤±0.5℃ ≤±1℃ |
| offset da temperatura | ≤±2℃ |
| definição da temperatura | 0.01℃ |
| Taxa de aquecimento | 5℃/min (refrigerar mecânico, sob a carga padrão) |
| taxa da mudança de temperatura |
A alta temperatura pode encontrar ajustável 5℃~8℃/min não-linear (medido na tomada de ar, na refrigeração mecânica, sob a carga padrão), baixa temperatura pode encontrar 0℃~2℃/min não-linear Ajustável (medido na tomada de ar, refrigerar mecânico, sob a carga normal) |
| uniformidade da temperatura | ≤±2℃ |
| carga padrão | 10KG bloco de alumínio, carga 500W; |
Padrão do teste
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Equipamento de teste da temperatura GB/T5170.2-2008
GB/2423.1-2008 (IEC60068-2-1: 2007) métodos AB do teste da baixa temperatura.
GB/2423.2-2008 (IEC60068-2-2: 2007) VAGABUNDOS de alta temperatura do método do teste.
(MIL-STD-810D) método de alta temperatura do teste GJBl50.3.
(MIL-STD-810D) método do teste da baixa temperatura GJBl50.4. |
Sistema de controlo
| Exposição | Exposição do LCD da cor |
| Modo de operação | Modo de programa, modo do valor fixo |
| Ajuste | Menu chinês e inglês (opcional), entrada do tela táctil |
| Ajustando a escala | Temperatura: Ajuste de acordo com a escala do funcionamento da temperatura do equipamento (limite superior +5°C, mais baixo limite -5°C) |
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definição da exposição |
Temperatura: 0.01°C Tempo: 0.01min |
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método de controle |
BTC equilibrou o método de controle da temperatura + o DCC (controle refrigerando inteligente) + DEC (controle elétrico inteligente) (o equipamento de teste da temperatura) BTHC equilibrou a temperatura e o método de controle da umidade + o DCC (controle refrigerando inteligente) + DEC (controle elétrico inteligente) (o equipamento da temperatura e de teste da umidade) |
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Função do registro da curva |
Tem RAM com proteção da bateria, que pode salvar o valor ajustado, a preparação de amostras do valor e a preparação de amostras da época do dispositivo; o tempo de gravação máximo é 350 dias (quando o período de preparação de amostras é 1.5min) |
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Função acessória |
Critique o alarme e a causa, processando a função alerta Função da proteção do sem energia Função da proteção da temperatura de limite superior e mais baixo Função de sincronismo do calendário (o começo e automáticos automáticos param a operação) função do autodiagnóstico |
Pessoa de Contato: Kelly
