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Detalhes do produto:
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| Tamanho interno da caixa: | W620×D450×H1100mm | Volume interno da caixa: | 460L |
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| Método refrigerando: | Refrigerado a ar | Peso: | sobre 900KG |
| Realçar: | A alta temperatura acelerou a câmara de envelhecimento,Câmara de envelhecimento acelerada personalizada |
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Câmara de envelhecimento acelerada temperatura personalizada do alto e baixo
Característica
O sistema de teste inteiro da máquina inclui principalmente a caixa da temperatura do alto e baixo, prato principal do PC, placa do PM, placa de microplaqueta, placa de FPGA, trabalho feito com ferramentas do produto, PC do TESTE do armazém e software traseiro do teste, etc. A divisória do hardware.
Vista geral de sistema de teste inteligente do SSD
O sistema de teste inteligente de SSD adota a plataforma do sistema operacional Win10, com o modo aberto do roteiro, a temperatura da caixa da temperatura do alto e baixo e os artigos do teste de produtos de PCIE podem ser alterados arbitrariamente, e a transmissão de dados é realizada através do sistema Linux e do interruptor de rede para realizar a operação do um-botão, controle conectado, trabalho de salvamento, realizando a gestão de dados inteligente, e permanentemente retendo resultados da análise.
Informação
| modelo do produto | HD-64-PCIE |
| Tamanho interno da caixa | W620×D450×H1100mm |
| Tamanho exterior da caixa | 约 W1640×D1465×H1875mm (máquina integrada)) |
| Volume interno da caixa | 460L |
| Método de abertura | Única porta (direita abra) |
| método refrigerando | refrigerado a ar |
| peso | sobre 900KG |
| fonte de alimentação | C.A. 220V aproximadamente 6,5 quilowatts |
Parâmetro da temperatura
| variação da temperatura | -5℃~100℃ |
| Flutuação da temperatura |
≤±0.5℃ ≤±1℃ |
| offset da temperatura | ≤±2℃ |
| definição da temperatura | 0.01℃ |
| Taxa de aquecimento | 5℃/min (refrigerar mecânico, sob a carga padrão) |
| taxa da mudança de temperatura |
A alta temperatura pode encontrar ajustável 5℃~8℃/min não-linear (medido na tomada de ar, na refrigeração mecânica, sob a carga padrão), baixa temperatura pode encontrar 0℃~2℃/min não-linear Ajustável (medido na tomada de ar, refrigerar mecânico, sob a carga normal) |
| uniformidade da temperatura | ≤±2℃ |
| carga padrão | 10KG bloco de alumínio, carga 500W; |
Padrão do teste
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Equipamento de teste da temperatura GB/T5170.2-2008
GB/2423.1-2008 (IEC60068-2-1: 2007) métodos AB do teste da baixa temperatura.
GB/2423.2-2008 (IEC60068-2-2: 2007) VAGABUNDOS de alta temperatura do método do teste.
(MIL-STD-810D) método de alta temperatura do teste GJBl50.3.
(MIL-STD-810D) método do teste da baixa temperatura GJBl50.4. |
Sistema de controlo
| Exposição | Exposição do LCD da cor |
| Modo de operação | Modo de programa, modo do valor fixo |
| Ajuste | Menu chinês e inglês (opcional), entrada do tela táctil |
| Ajustando a escala | Temperatura: Ajuste de acordo com a escala do funcionamento da temperatura do equipamento (limite superior +5°C, mais baixo limite -5°C) |
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definição da exposição |
Temperatura: 0.01°C Tempo: 0.01min |
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método de controle |
BTC equilibrou o método de controle da temperatura + o DCC (controle refrigerando inteligente) + DEC (controle elétrico inteligente) (o equipamento de teste da temperatura) BTHC equilibrou a temperatura e o método de controle da umidade + o DCC (controle refrigerando inteligente) + DEC (controle elétrico inteligente) (o equipamento da temperatura e de teste da umidade) |
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Função do registro da curva |
Tem RAM com proteção da bateria, que pode salvar o valor ajustado, a preparação de amostras do valor e a preparação de amostras da época do dispositivo; o tempo de gravação máximo é 350 dias (quando o período de preparação de amostras é 1.5min) |
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Função acessória |
Critique o alarme e a causa, processando a função alerta Função da proteção do sem energia Função da proteção da temperatura de limite superior e mais baixo Função de sincronismo do calendário (o começo e automáticos automáticos param a operação) função do autodiagnóstico |
Pessoa de Contato: Kelly
